密に配置されたアレイに対する信号プロービングを容易にするプローブマスク

Probe mask for facilitating signal probing for densely arranged array

Abstract

【課題】密に配置されたプローブ用測定パッドのアレイに対するプロービングを容易にする。 【解決手段】プローブマスク430は、穿孔絶縁シート400をフレーム410で保持して形成される。穿孔絶縁シート400には、計測対象であるPCB上の測定パッド(不図示)の配列ピッチと同じピッチで穿孔420が設けられている。プローブマスク430をPCB上で位置決めし、プローブ300のプローブチップ320を所望の穿孔420に刺すことにより、プローブチップ320が穿孔420で位置決めされ、測定パッドとの接触状態を容易に維持することができる。 【選択図】 図5
PROBLEM TO BE SOLVED: To facilitate probing corresponding for a densely arranged array of measuring pads for probing. SOLUTION: A probe mask 430 is formed by holding a perforation insulating sheet 400 by a frame 410. Perforated holes 420 are provided at the same pitch as the arraying pitch of the measuring pads (not shown) on a PCB to be measured. The probe mask 430 is positioned on the PCB, the probe tip 320 of a probe 300 is stabbed in a desired perforated hole 420. Thus, the probe tip 320 is positioned in the perforated hole 420, and hence the contact state of the measuring pad can be easily maintained. COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Claims

Description

Topics

Download Full PDF Version (Non-Commercial Use)

Patent Citations (0)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle

NO-Patent Citations (0)

    Title

Cited By (0)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle